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Products曾先生
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分布假設的選擇
在選擇試驗方案時，無論選擇定時截尾試驗方案、定數(shù)截尾試驗方案或概率比序貫試驗 方案中的哪一種，首先應假設設備的失效隨時間的分布規(guī)律是服從什么樣的分布規(guī)律。一般 應考慮選擇下列的分布形式。
指數(shù)式分布：在失效率是一個常數(shù)時使用。就許多設備來說，早期失效區(qū)(失效率下降） 之后和耗損失效區(qū)（失效率上升）之前有一個偶然失效區(qū)，設備在這個區(qū)域工作時，失效率 是一個常數(shù)。一般情況下，設備在經過一段時間的使用、維修保養(yǎng)之后，性能比較穩(wěn)定，在 一個相當長的時間內失效率是恒定的。
威布爾分布：在失效率是增長的或下降的時期使用。復雜設備的失效率可以是下降的， 然而，具有耗損機理的設備和不可修復的貯存單元比重比較大的設備的失效率卻是增長的。 因此，威布爾分布在很多場合下應用是有的。然而就統(tǒng)計程序來說，這種分布不如指數(shù)分布 和正態(tài)分布應用那么廣泛。
正態(tài)分布：當失效率是增長的，而且失效隨時間的分布規(guī)律近似于高斯分布時使用。盡 管經過適當?shù)剡x擇參數(shù)，可以用威布爾分布近似地代替正態(tài)分布。然而，還是采用正態(tài)分布 要比威布爾分布*痹多，因為在瘕設正態(tài)分布的基礎上很多統(tǒng)計方法都可以利用。
對于電子設備來說，根據(jù)國內外大量的實踐經驗證明；一般電子設備通過老嫌措施或經 過一段使用期后，基本上是服從指數(shù)分布的。因此，本書介紹的甙驗方案的設計方法，推薦 的標準型試驗方案，以及設備可靠性試驗驗證值的計算方法，都是基于失效隨時間的分布規(guī) 律服從指數(shù)分布這一假設的。就是認為設備在搞然失效區(qū)工作，設備可靠度函數(shù)是指數(shù)律 的。如果不是假詼它服從指數(shù)分布，試驗方案的設計方法，判決標準及所需求的試驗時間， 以及試驗的觀rBF值的計算方法，也都不一樣了。關于非指數(shù)分布的試驗方桊的設計及驗 證值的計算方法等，目前電工委員會的有些工作組及我國的有關部門正在研制中。
